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EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。
测试系统特点
IV曲线显示/局部放大，程序保护电流/电压,以防损坏，品种繁多的曲线，可编程的数据点对应，增加线性或对数，可编程延迟时间可减少器件发热，保存和重新导入入口程序，保存和导入之前捕获图象，曲线数据直接导入到EXCEL，曲线程序和数据自动存入EXCEL，程序保护电流/电压,以防损坏，测试范围广（19总大类，27分类）
系统规格及技术指标
主极电压： 1mV-2000V
电压分辨率： 1mV
主极电流： 0.1nA-50A
扩展电流： 100A
电流分辨率： 0.1nA
测试精度： 0.2%+2LSB
测试速度： 0.5mS/参数
工作温度： 25℃--40℃
工作湿度： 45%--80%
贮存湿度： 10%--90%
工作电压： 200v--240v
电源频率： 47HZ--63HZ
通信接口： RS232 USB
系统功耗： <150w
设备尺寸： 450mm×570mm×280mm
质 量： 35KG
测试范围
二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS
达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC